O Capítulo Estudantil IEEE EDS da Unicamp convida toda sociedade científica a participar da palestra “Reliability of Metal Gate / High-K CMOS devices” que será realizada virtualmente no dia 25 de março de 2021 às 14:00

O palestrante será o Dr. Andreas Kerber, IEEE Senior Member and Distinguished Lecturer

Você poderá acompanhar a palestra através das seguintes plataformas:

·        Zoom meeting - O link será disponibilizado na manhã da palestra para os inscritos. Disponibilidade sujeita aos limites de membros da sessão de zoom.

·        Link do YouTube - https://www.youtube.com/channel/UCnHDHJegFj1PW1HvboUfCDQ

Mais informações e inscrições em: https://events.vtools.ieee.org/m/264341

Contamos com a sua presença!

 OBS: Slides e áudio em Inglês